芯片模組低溫測試箱用于產品的低溫測試，下面是“環儀儀器”整理出的一些設計到芯片模組低溫測試的標準和要求，供各位參考。

試驗名稱：芯片模組做低溫測試

試驗設備：環儀儀器 低溫測試箱

試驗條件：

1. EIAJ ED-4701/200:2001 半導體器件的環境和耐久性試驗方法（壽命試驗 II）

a. 將樣品存放在預先設定在指定溫度（低溫）的低溫測試箱中，保存指定的時間。
b. 除非另有規定，儲存溫度應為最低額定儲存溫度。
c. 儲存溫度允許誤差在-25℃以下時為±5℃，在-25℃以上下限為+3℃、-5℃。
d. 測試時間應為1000小時。

2. JESD22-A119A 低溫存儲壽命標準

a. 在-40℃、-55℃、-65℃三個低溫中選擇合適產品測試的溫度。
b. 測試時間應為1000小時。
c. 除非另有規定，中期和最終電氣測試測量應在器件從移出后 96 小時內完成。