SSD在生產(chǎn)過(guò)程中，需要在高溫、低溫條件下進(jìn)行可靠性測(cè)試，測(cè)試狀態(tài)既包括斷電狀態(tài)，也包括通電下最高讀取速率的工作狀態(tài)，測(cè)試過(guò)程需要用到高低溫SSD老化柜。

SSD高低溫老化過(guò)程：

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 高低溫SSD老化柜

試驗(yàn)依據(jù)：YD/T 3824-2021 面向互聯(lián)網(wǎng)應(yīng)用的固態(tài)硬盤(pán)測(cè)試規(guī)范

注意事項(xiàng)：由于從低溫到高溫轉(zhuǎn)換過(guò)程中，會(huì)有大量結(jié)霜變成水珠，水珠會(huì)導(dǎo)致芯片管腳直接的短路，導(dǎo)致SSD被燒毀，因此，被測(cè)試固態(tài)硬盤(pán)必須要做加固及防水處理。

前言：在YD/T 3824-2021標(biāo)準(zhǔn)的要求，固態(tài)硬盤(pán)的高低溫試驗(yàn)范圍在-40~80℃，工業(yè)級(jí)溫度標(biāo)準(zhǔn)為-40℃~ +85℃。

以下試驗(yàn)溫度要求則為-50~90℃，試驗(yàn)要求比標(biāo)準(zhǔn)要求高。不同廠(chǎng)商的測(cè)試要求可以根據(jù)自身產(chǎn)品定位來(lái)變化。

測(cè)試流程：

1、在斷電的狀態(tài)下，先將溫度下降到-50℃，保持4個(gè)小時(shí)；

請(qǐng)勿在通電的狀態(tài)下進(jìn)行低溫測(cè)試，非常重要，因?yàn)橥姞顟B(tài)下，芯片本身就會(huì)產(chǎn)生+20℃以上溫度，所以，在通電狀態(tài)下，通常比較容易通過(guò)低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。

2、開(kāi)機(jī)，對(duì)SSD進(jìn)行讀寫(xiě)性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。

3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。

4、進(jìn)行掉電測(cè)試，具體方法參考：

5、升溫到+90℃，保持4個(gè)小時(shí)，與低溫測(cè)試相反，升溫過(guò)程不斷電，保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài)，4個(gè)小時(shí)后，執(zhí)行2、3、4測(cè)試步驟。

6、高溫和低溫測(cè)試分別重復(fù)10次。

如果測(cè)試過(guò)程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài)，則視為測(cè)試失敗。

市場(chǎng)上，通常有人使用商業(yè)級(jí)溫度產(chǎn)品進(jìn)行篩選后做工業(yè)級(jí)使用，這種方法具備一定的潛在風(fēng)險(xiǎn)，篩選的產(chǎn)品在幾次溫度循環(huán)中出現(xiàn)故障概率極大，另外，嚴(yán)格的寬溫通常無(wú)法通過(guò)，還有可能本次測(cè)試通過(guò)，下次測(cè)試無(wú)法通過(guò)。