軍用單片集成電路是軍用電子設(shè)備的核心部分。按照軍用環(huán)境應(yīng)用條件要求需要進(jìn)行高低溫測(cè)試， 溫度范圍為-55~125℃。下面，通過(guò)用溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀，來(lái) 看看對(duì)軍用電子產(chǎn)品的試驗(yàn)應(yīng)用

試驗(yàn)設(shè)備：環(huán)儀儀器 溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀

試驗(yàn)樣品：運(yùn)算放大器

試驗(yàn)設(shè)計(jì)：在低溫-55℃和高溫125℃對(duì)電路進(jìn)行測(cè)試，電路測(cè)試時(shí)間一般控制在30 s內(nèi)完成，若電路測(cè)試時(shí)間超過(guò)30 s，測(cè)試需分段進(jìn)行。

試驗(yàn)分析：

輸出電流Io+在使用溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀的情況下在高溫與低溫下分別為30.2 mA和49.2 mA，輸出電流Io-和輸出短路電流Isc+、Isc-的數(shù)據(jù)說(shuō)明了溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀測(cè)試情況下的極限值跨度大，即在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)，溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀更能體現(xiàn)極限溫度下測(cè)參數(shù)值的，從而在設(shè)計(jì)的早期摸底階段可以更準(zhǔn)確地驗(yàn)證極端環(huán)境條件下的器件性能特性變化，排除故障風(fēng)險(xiǎn)。

試驗(yàn)結(jié)論：

軍用元器件需要在極端溫度環(huán)境下使用，目前在采用烘箱進(jìn)行高低溫電測(cè)試的過(guò)程中，由于器件溫度會(huì)有一定的回溫現(xiàn)象，對(duì)于一些溫度敏感參數(shù)而言不能最大程度地測(cè)出器件真實(shí)的性能特性變化范圍。

應(yīng)用溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀可以精確控制被測(cè)器件殼溫，并能同時(shí)進(jìn)行通電測(cè)試器件性能指標(biāo)特性。在科研階段熱流置給集成電路、模塊及電子元器件等提供了精確的環(huán)境溫度，能更有效地對(duì)產(chǎn)品電性能進(jìn)行測(cè)試，從而更好地排除早期失效,并提高可靠性分析的準(zhǔn)確性。

如需了解更多溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀的試驗(yàn)應(yīng)用，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。